Effekt av objektemissivitet på temperaturmätning med strålningstermometer
De faktiska föremålen som finns i naturen är nästan inte svarta kroppar. Strålningsmängden för alla faktiska föremål beror inte bara på strålningsvåglängden och objektets temperatur, utan också på typen av material som utgör föremålet, beredningsmetoden, den termiska processen, yttillståndet och miljöförhållandena. För att göra lagen om svartkroppsstrålning tillämplig på alla praktiska föremål måste därför en proportionell koefficient relaterad till materialegenskaper och yttillstånd införas, det vill säga emissivitet. Denna koefficient anger hur nära den termiska strålningen från det faktiska föremålet är den svarta kroppsstrålningen, och dess värde är mellan noll och ett värde mindre än 1. Enligt strålningslagen, så länge som materialets emissivitet är känd, den infraröda strålningsegenskaperna för alla föremål är kända.
De viktigaste faktorerna som påverkar emissiviteten är: materialtyp, ytjämnhet, fysikalisk och kemisk struktur och materialtjocklek.
När man använder en infraröd strålningstermometer för att mäta temperaturen på ett mål, är det först nödvändigt att mäta den infraröda strålningen från målet inom dess bandområde, och sedan beräknas temperaturen på det uppmätta målet av termometern. Monokroma pyrometrar är proportionella mot mängden strålning inom ett band; tvåfärgade pyrometrar är proportionella mot förhållandet mellan mängden strålning i de två banden.
Infrarött system: Den infraröda termometern består av optiskt system, fotodetektor, signalförstärkare, signalbehandling, displayutgång och andra delar. Det optiska systemet samlar in målenergin för infraröd strålning i sitt synfält, och storleken på synfältet bestäms av termometerns optiska delar och dess position. Infraröd energi fokuseras på en fotodetektor och omvandlas till en motsvarande elektrisk signal. Signalen passerar genom förstärkaren och signalbehandlingskretsen och omvandlas till temperaturvärdet för det uppmätta målet efter att ha korrigerats enligt algoritmen för den interna behandlingen av instrumentet och målets emissivitet.
