Förklaring av skillnaden mellan laserkonfokalmikroskop och svepelektronmikroskop
Laserkonfokalmikroskop och svepelektronmikroskop är båda punktkälla avsökningsavbildning, och förstoringen justeras genom att styra skanningens körområde. Laserkonfokalmikroskop fungerar genom laserskanning och kan erhålla tredimensionella bilder. Svepelektronmikroskop (SEM) använder olika fysiska signaler som exciteras av finfokuserad elektronstråleskanning på provytan för att modulera avbildning, och endast tvådimensionella bilder kan erhållas, men inte tredimensionella bilder.
1. Olika gränsupplösningar (olika förstärkningssignalkällor)
Laserkonfokal: gränsupplösningen är 150nm.
Svepelektronmikroskop: 20nm~0,8nm
2. Olika scanning körlägen.
Laserkonfokal: den laserroterande spegeln styr laserskanningsområdet och skanningshastigheten.
Svepelektronmikroskop: elektromagnetisk spole styr avsökningsomfånget och skanningshastigheten för elektronstrålen.
3. Stereobild är annorlunda
Laserkonfokal: provet avbildas lager för lager i Z-axelns riktning med en stegmotor med nanoprecision, och programvaran syntetiserar de inställda bilderna för varje lager till en tydlig tredimensionell bild.
Svepelektronmikroskop (SEM): Enbildsbild har stort skärpedjup och tillhör tvådimensionell bild.
4, är tillämpningsområdet annorlunda
Laserkonfokal: flera gånger till flera tusen gånger
Svepelektronmikroskop: flera gånger till flera hundra tusen gånger
5. Annan arbetsmiljö
Laserkonfokal: Den kan testa prover i atmosfärisk miljö.
Svepelektronmikroskop: testprover i högvakuummiljö.
