Introduktion till Scanning Probe Microscope Features
Scanning Probe Microscope (Scanning Probe Microscope, SPM) är scanning tunnelmikroskopet och i scanning tunnelmikroskopet på grundval av utvecklingen av en mängd nya probmikroskop (atomkraftmikroskop AFM, laserkraftmikroskop LFM, magnetiskt kraftmikroskop MFM och så vidare) kollektivt, är den internationella utvecklingen av ytan av de analytiska instrumenten under de senaste åren, är den omfattande användningen av optoelektronikteknik, laserteknik, svag signaldetekteringsteknik, precisionsmekanisk design och bearbetning, automatisk styrteknik, digital signalbehandlingsteknik , tillämpad optisk teknik, dator höghastighetsförvärv och kontroll och högupplöst grafisk bearbetningsteknik och andra moderna vetenskapliga och tekniska landvinningar av optisk, mekanisk och elektrisk integration av högteknologiska produkter. Denna nya typ av mikroskopiska verktyg har uppenbara fördelar jämfört med olika mikroskop och analysinstrument tidigare:
1, SPM har en mycket hög upplösning. Det kan lätt "se" atomen, vilket är svårt att nå det allmänna mikroskopet och till och med elektronmikroskopet.
2, SPM är en realtid, verklig prov yta högupplöst bild, är verkligen se atomen. Till skillnad från vissa analytiska instrument härleds provets ytstruktur med indirekta eller beräkningsmetoder.
3,SPM används i en avslappnad miljö. Elektronmikroskop och andra instrument på arbetsmiljökraven för de mer krävande, måste provet placeras i ett högt vakuum för att testa. SPM kan arbeta i vakuum, men också i atmosfären, låg temperatur, rumstemperatur, hög temperatur och även i lösning. Därför lämpar sig SPM för vetenskapliga experiment i olika arbetsmiljöer.
