Introduktion till klassificering av transmissionselektronmikroskop
1. Stor överföringselektronmikroskop:
Stor transmissionselektronmikroskopi (konventionell TEM) använder i allmänhet en elektronstrålaccelerationspänning på {{0}} KV, med olika modeller som motsvarar olika elektronstrålaccelerationspänningar. Dess upplösning är relaterad till elektronstrålens accelerationspänning och kan nå 0. 2-0. 1nm. High End -modeller kan uppnå upplösning av atomnivå.
2. Lågspänningsöverföringselektronmikroskop:
Elektronstrålens accelerationsspänning (5kV) som används i lågspänning Small Transmission Electron Microscopy (LVEM) är mycket lägre än för stor transmissionselektronmikroskopi. En lägre accelerationsspänning kommer att förbättra interaktionsstyrkan mellan elektronstrålen och provet och därmed förbättra bildkontrasten och kontrasten, särskilt lämplig för prover som polymerer och organismer; Samtidigt orsakar lågtrycksöverföringselektronmikroskopi minimal skada på provet.
Upplösningen är lägre än för stora elektronmikroskop, 1-2 nm. På grund av användningen av lågspänning kan transmissionselektronmikroskopi, skanning av elektronmikroskopi och skanning av växellektronmikroskopi integreras på en enhet.
3. Frozen transmissionselektronmikroskop:
Cryo -mikroskopi involverar vanligtvis att lägga till provfrysningsutrustning till ett regelbundet transmissionselektronmikroskop, kyla provet till flytande kvävetemperatur (77K) och observera temperaturkänsliga prover såsom proteiner och biologiska sektioner. Genom att frysa provet kan skadorna som orsakas av elektronstrålen på provet reduceras, deformationen av provet kan minimeras och en mer realistisk provmorfologi kan erhållas.
