Mikroskop optisk felanalys
Mikroskopiska dubbelbilder sammanfaller inte. Vid observation av binokulära okular kommer det ibland att uppstå ett fenomen med dubbelbildsfel. Utseendet på dubbel bildförskjutning bryr sig inte om den inkonsekventa kompensationen av längden på de två linshylsorna. Förstoringen av de två okularen är helt olika, och vibrationerna under användning eller transport orsakar kikareskador. Prismats position förskjuts på grund av tre skäl. Av de två första anledningarna har de kalibrerats och matchats när de lämnar fabriken och de går att lösa så länge man är uppmärksam på metoden och matchningen under användning.
Den tredje anledningen till mikroskopet är vanligare. Vid denna tidpunkt bör kikareskalet öppnas, en korslinjal bör placeras på plattformen och 10X riktmedelsokular ska sättas in i vänster och höger linshylsa för observation, och kikarprismats position och vinkel ska korrigeras . , och när de kikare okularen roteras för att observera i olika vinklar, är positionerna för korsmärkena i samma position för synfältet för vänster och höger okular, och dra sedan åt dem.
När mikroskopet kikare observation, ibland kommer det att finnas inkonsekvenser i ljusstyrkan och färgen på vänster och höger synfält, vilket kommer att påverka observationen. Detta orsakas av skadan på spjälkningsfilmen i strålklyvningsprismat. Vid denna tidpunkt bör strålklyvningsprismat tas bort och skickas till mikroskoptillverkaren för ombeläggning innan montering och användning. .
Skillnaden mellan tillämpningen av upprätt metallografiskt mikroskop och inverterat metallografiskt mikroskop
Inverterat metallurgiskt mikroskop, eftersom observationsytan på provet sammanfaller med arbetsbänkens yta nedåt, är observationsobjektivet placerad under arbetsbänken och observeras uppåt, denna observationsform är inte begränsad av höjden på provet, så länge som en observationsytan är platt när man förbereder provet. Därför används den i stor utsträckning i fabrikslaboratorier, vetenskapliga forskningsinstitutioner och högskolor. Basen på det inverterade metallografiska mikroskopet har en stor stödyta, en låg tyngdpunkt, stabil och pålitlig drift, och okularet och stödytan lutar 45 grader, vilket gör observationen bekväm.
Det upprättstående metallografiska mikroskopet har samma grundläggande funktioner som det inverterade metallografiska mikroskopet, förutom analys och identifiering av metallprover med en höjd av 20-30mm, eftersom det överensstämmer med människors dagliga vanor, används det mer allmänt i transparenta , genomskinlig eller ogenomskinlig substans. Det upprättstående metallurgiska mikroskopet bildar en positiv bild under observation, vilket ger stor bekvämlighet för användarens observation och identifiering. Förutom analys och identifiering av metallprover med en höjd av 20-30mm, observationsmål större än 3 mikron och mindre än 20 mikron, såsom cermets, elektroniska chips, tryckta kretsar, LCD-substrat, filmer, fibrer, granulära föremål, beläggningar och andra material på ytan Strukturen och spåren kan ha en god bildeffekt.
