Lösning av EMI-problem i tids- och frekvensdomänerna med digitala RTO-oscilloskop
Nyckeln till EMI-diagnos är FFT-tekniken. Med traditionella oscilloskops FFT-funktion är det svårt att ställa in parametrar i frekvensdomänen och spektrumanalys tar lång tid. Eftersom FFT-gränssnittet för R&S RTO-oscilloskop är baserat på en spektrumanalysator kan användare direkt ställa in parametrar, inklusive startfrekvens, gränsfrekvens, bandbreddsupplösning och detektortyp, precis som att använda en spektrumanalysator.
Den kraftfulla FFT-tekniken kombinerat med det stora minnesdjupet hos RTO-oscilloskop gör att användaren självständigt kan ställa in tids- och frekvensdomänparametrar och flexibelt utföra analyser i både tids- och frekvensdomänerna. Dessa funktioner gör att användaren kan hitta källor för utstrålad störning så snabbt som möjligt.
R&S RTO-oscilloskop använder Overlap FFT för frekvensdomänanalys. Overlap FFT-tekniken möjliggör hög känslighet för falsk strålning och kan fånga enstaka falska frekvenspunkter. Oscilloskopet delar först upp den fångade tidsdomänsignalen i ett antal tidssegment och utför sedan FFT-beräkningar för att erhålla spektrumet för varje tidssegment, vilket fångar episodiska falska lågenergisignaler i spektrumet.
Sedan markeras signalerna med olika förekomstfrekvenser med olika färger och de FFT-analyserade spektra av alla tidssegment kombineras för att bilda ett komplett spektrum.
Strålning särskiljs från episodisk strålning genom att märka den med olika färger. Spektrumanalys med hjälp av färgkodningstekniken ger en perfekt bild av typen och frekvensen av EMI-emissioner.
Den fönsterbaserade FFT-tekniken tillåter användaren att anpassa ett tidsfönster på den infångade signalen, utföra FFT-analysen på endast signalerna inom tidsfönstret, och genom att skjuta fönstret, analysera överensstämmelsen mellan varje segment av tidsdomänsignalen och spektrum. Tekniken kan till exempel användas för att analysera ett EMI-problem på grund av transistoröversvängning i en switchande strömförsörjning. Efter att ha identifierat problempunkten kan användaren snabbt verifiera effekten av korrigeringen.
Mallverktyget är också mycket effektivt för att analysera falska strålningsproblem. Användare definierar mallar i frekvensdomänen och ställer in dem för de störande signalerna, så att de exakt kan avgöra vilka signaler som orsakar spektrala överträdelser. Även för infångade signaler kan användaren justera FFT-parametrarna, såsom storleken på fönstret och frekvensupplösningen. Sådana kraftfulla funktioner tillåter användare att noggrant analysera EMI-utsläpp som är svåra att fånga.
R&S RTO-oscilloskop sätter ett nytt riktmärke för oscilloskop med sina rika fångst- och analysfunktioner. Samtidigt, med en mängd tillbehör, som R&S HZ-15 närområdessond, ger den en komplett EMI-diagnostisk lösning.
