Struktur och arbetsprincip för svepelektronmikroskop
Från elektronkanonens katod som utges av diametern 20 (m ~ 30 (m) av elektronstrålen, av katoden och anoden mellan accelerationsspänningens roll, skjuten till spegelpipan, genom kondensorspegeln och objektivlins av konvergenseffekten, avsmalnande till en diameter på cirka några millimeter av elektronsonden Under inverkan av skanningsspolen på den övre delen av objektivlinsen, gör elektronsonden en gitterskanning på provytan och exciterar. en mängd elektroniska signaler Dessa elektroniska signaler detekteras av motsvarande detektor, förstärks, omvandlas och omvandlas till en spänningssignal, som sedan skickas till bildrörets gate och modulerar ljusstyrkan på bildröret röret i den fluorescerande skärmen även för rasterskanning, och denna skanningsrörelse och provytan på elektronstrålens skanningsrörelse är strikt synkroniserade, så att graden av liner och den mottagna signalstyrkan som motsvarar den svepelektronbilden, denna bild reflekterar prov yta topografiska egenskaper. ** sektion scanning elektronmikroskopi biologiska provberedningstekniker De flesta biologiska prover innehåller vatten och är relativt mjuka, därför bör provet behandlas i enlighet med detta innan du utför svepelektronmikroskopobservation. Svepelektronmikroskopi provberedning av de viktigaste viktiga precision: så långt som möjligt för att göra provets ytstruktur är väl bevarad, ingen deformation och kontaminering, provet är torrt och har god elektrisk ledningsförmåga.
Egenskaper för svepelektronmikroskop
(i) Den kan direkt observera strukturen på provytan, och storleken på provet kan vara så stor som 120 mm × 80 mm × 50 mm.
(ii) Provberedningsprocessen är enkel och det finns ingen anledning att skära i tunna skivor.
(iii) Provet kan translateras och roteras i tre grader av utrymme i provkammaren, så att provet kan observeras från olika vinklar.
(D) Skärpedjupet är stort och bilden är rik på tredimensionell betydelse. Skärpedjupet för svepelektronmikroskopet är hundratals gånger större än det för det optiska mikroskopet och tiotals gånger större än det för transmissionselektronmikroskopet.
(E) bilden av ett brett spektrum av förstoring, är upplösningen också relativt hög. Kan förstoras ett dussin gånger till hundratusentals gånger, det inkluderar i princip från förstoringsglaset, optiskt mikroskop tills transmissionselektronmikroskopets förstoringsområde. Upplösning mellan det optiska mikroskopet och transmissionselektronmikroskopet, upp till 3nm.
(vi) Graden av skada och kontaminering av provet av elektronstrålen är liten.
(vii) Medan morfologin observeras kan andra signaler som emitteras från provet användas för analys av mikroområdessammansättning.
