Skillnaden mellan ett elektronmikroskop och ett metallografiskt mikroskop
Scanning ElectronMicroscope, förkortat SEM, är ett komplext system som kondenserar elektronoptisk teknik, vakuumteknik, finmekanisk struktur och modern datorstyrningsteknik. Svepelektronmikroskopet samlar elektronerna som emitteras av elektronkanonen till en liten elektronstråle genom en elektromagnetisk flerstegslins under inverkan av accelererande högspänning. Scanning av provytan stimulerar olika information och genom att ta emot, förstärka och visa informationen kan provytan analyseras. Interaktionen mellan infallande elektroner och provet producerar de typer av information som visas i figur 1. Den tvådimensionella intensitetsfördelningen av denna information ändras med egenskaperna hos provytan (dessa egenskaper inkluderar ytmorfologi, sammansättning, kristallorientering, elektromagnetiska egenskaper, etc.), vilket är en sekventiell och proportionell omvandling av informationen som samlas in av olika detektorer. Videosignalen omvandlas till en videosignal och skickas sedan till ett synkront avsökningsbildrör och dess ljusstyrka moduleras för att erhålla en skannad bild som återspeglar provets yttillstånd. Om signalen som tas emot av detektorn behandlas digitalt och omvandlas till en digital signal, kan den vidarebearbetas och lagras av datorn. Svepelektronmikroskopi används främst för att observera tjocka prover med stora höjdskillnader och grova ojämnheter. Därför är skärpedjupseffekten framhävd i designen. Det används vanligtvis för att analysera sprickor och naturliga ytor som inte har bearbetats på konstgjord väg.
Elektronmikroskop och metallurgiskt mikroskop
1. Olika ljuskällor: Metallografiska mikroskop använder synligt ljus som ljuskälla, och svepelektronmikroskop använder elektronstrålar som ljuskälla för avbildning.
2. Olika principer: Metallografiska mikroskop använder principen för geometrisk optik avbildning för avbildning, medan svepelektronmikroskop använder högenergielektronstrålar för att bombardera provytan för att stimulera olika fysiska signaler på provytan, och sedan använda olika signaldetektorer för att ta emot de fysiska signalerna och omvandla dem till bilder. information.
3. Olika upplösningar: På grund av ljusets interferens och diffraktion kan upplösningen för ett metallografiskt mikroskop endast begränsas till 0.2-0.5um. Eftersom svepelektronmikroskopet använder elektronstrålar som ljuskälla, kan dess upplösning nå mellan 1-3nm. Därför tillhör vävnadsobservationen under det metallografiska mikroskopet mikronnivåanalys, medan vävnadsobservationen under svepelektronmikroskopet tillhör nanonivåanalys.
4. Olika skärpedjup: I allmänhet är skärpedjupet för ett metallografiskt mikroskop mellan 2-3um, så det har extremt höga krav på ytjämnheten hos provet, så dess provberedningsprocess är relativt komplicerad. Svepelektronmikroskopet har ett stort skärpedjup, ett stort synfält och en tredimensionell bild och kan direkt observera de fina strukturerna på de ojämna ytorna på olika prover.
