Metoden för att mäta DC-arbetsspänningen med en multimeter
Detta är en metod för att mäta DC-matningsspänningen och arbetsspänningen för perifera komponenter med hjälp av DC-spänningsområdet för en multimeter när strömmen är på. Genom att detektera likspänningsvärdet för varje stift på IC till jord och jämföra det med det normala värdet, kan felområdet minskas och den skadade komponenten kan hittas. Vid mätning bör följande åtta punkter noteras:
(1) Multimetern bör ha en tillräckligt stor intern resistans, åtminstone mer än 10 gånger resistansen hos kretsen som testas, för att undvika att orsaka stora mätfel.
(2) Vrid vanligtvis varje potentiometer till mittläget. Om det är en TV bör en standardsignalgenerator för färgfält användas som signalkälla.
(3) Anti-glidåtgärder bör vidtas för testkablarna eller sonderna. Eftersom varje kortslutning sannolikt kommer att skada IC. Följande metod kan användas för att förhindra att testkablarna glider: Ta en del av ventilkärnan på en cykel och lägg den på spetsen av testkabeln, så att den sticker ut cirka 0,5 mm från spetsen av testkabeln. Detta kan inte bara säkerställa en god kontakt mellan spetsen på testledningen och testpunkten, utan också effektivt förhindra halkning. Även om den vidrör den intilliggande punkten kommer den inte att orsaka kortslutning.
(4) När spänningen för ett visst stift är oförenligt med det normala värdet, bör kvaliteten på IC bedömas genom att analysera stiftspänningens inverkan på IC:s normala funktion och motsvarande förändringar i spänningarna hos andra stift.
(5) Spänningen på stiften på IC kommer att påverkas av de perifera komponenterna. När de perifera komponenterna har läckage, kortslutning, öppen krets eller värdeförändring, eller periferikretsen är ansluten till en potentiometer med variabelt motstånd, kommer spänningen på stiften att ändras beroende på positionen på potentiometerns glidarm.
(6) Om spänningarna för alla stift på IC är normala anses IC i allmänhet vara normal. Om spänningarna för vissa stift på IC:n är onormala, bör inspektionen börja från stiftet med den största avvikelsen från normalvärdet för att kontrollera om de perifera komponenterna har fel. Om det inte finns något fel är IC sannolikt skadad.
(7) För dynamiska mottagningsenheter, såsom tv-apparater, är spänningarna för varje stift på IC olika när det finns eller inte finns en signal. Om det visar sig att stiftspänningen som inte bör ändras förändras mycket, och stiftspänningen som bör ändras enligt storleken på signalen och positionen för den justerbara komponenten inte ändras, kan det fastställas att IC är skadad.
(8) För enheter med flera arbetslägen, såsom videobandspelare, är spänningarna för varje stift på IC också olika under olika arbetslägen.
