Antalet provtagningspunkter och konturpunkter för laserprofilsensorn
Antal samplingspunkter: hänvisar till det faktiska antalet punkter i breddriktningen för en enstaka provtagning av CMOS.
Konturpunkter: Antalet konturpunkter som finns i varje kontur. Det bestäms huvudsakligen av antalet CMOS-samplingspunkter i den interna bilden av kontursensorn och interpolationsmetoden för konturberäkning.
Ju fler faktiska provtagningspunkter i samma mätfält, desto högre är den faktiska mätupplösningen.
Genom att använda den artificiella konturpunktinterpolationsmetoden kan antalet konturpunkter avsiktligt ökas medan antalet samplingspunkter förblir oförändrat; då kommer detta inte riktigt att förbättra mätnoggrannheten.
Vissa företag i branschen interpolerar 640 punkter med samplingsdata till 800 konturpunkter och 2048 samplingspunkter till 3 200 konturpunkter.
