+86-18822802390

Användning av svepelektronmikroskopi (SEM) vid analys av defekter

Jun 10, 2024

Användning av svepelektronmikroskopi (SEM) vid analys av defekter

 

Förkortningen för svepelektronmikroskop är svepelektronmikroskop, förkortat SEM. Den använder en finfokuserad elektronstråle för att bombardera provets yta, och observerar och analyserar provets yta eller frakturmorfologi genom sekundära elektroner, tillbakaspridda elektroner etc. som genereras av interaktionen mellan elektroner och provet.


Inom felanalys har SEM ett brett utbud av applikationsscenarier, som spelar en avgörande roll för att fastställa felanalyslägen och identifiera orsakerna till fel.


De huvudsakliga tillämpningsscenarierna för SEM i felanalys är:
F: Vad är felanalys?


S: Den så kallade felanalysen är baserad på felfenomen, genom informationsinsamling, visuell inspektion och elektrisk prestandatestning, för att fastställa felplatsen och möjliga fellägen, det vill säga fellokalisering;


Sedan används en serie analysmetoder för att utföra rotorsaksanalys och rotorsaksverifiering för felläget;


Slutligen, baserat på testdata som erhållits från analysprocessen, förbered en analysrapport och föreslå förbättringsförslag.


Praktisk analys och tillämpningsfall


1. Observation och mätning av intermetallisk förening IMC
Svetsning förlitar sig på legeringsskiktet som genereras på fogytan, nämligen IMC-skiktet, för att uppnå den erforderliga anslutningshållfastheten. IMC som bildas genom diffusion har en mängd olika tillväxtformer, som har en unik inverkan på de fysikaliska och kemiska egenskaperna, särskilt mekaniska och korrosionsbeständiga, hos korsningen. Dessutom kan både för tjock och för tunn IMC påverka svetsstyrkan.


2. Observation och mätning av fosforrikt skikt
Efter att ha behandlats med kemiskt nickelguld (ENIG), kommer lödkuddarna att samla överskottsfosfor vid kanten av legeringsskiktet efter att Ni deltar i legeringen och bildar ett fosforrikt skikt. Om det rika fosforskiktet är tillräckligt tjockt, kommer tillförlitligheten av lödfogarna att minska kraftigt.


3. Metallbrottanalys
Analysera några grundläggande problem med brott genom brottytans morfologi, såsom orsaken till brottet, brottegenskaper, frakturläge, brottmekanism, brottseghet, spänningstillstånd under frakturprocessen och sprickutbredningshastighet. Sprickanalys har blivit ett viktigt medel för felanalys för metallkomponenter.


4. Observation av nickelkorrosion (svart plåt) fenomen
Observation av korrosionssprickor (slamsprickor) från sprickytan och förekomsten av många svarta fläckar och sprickor på ytan av nickelskiktet efter guldstrippning indikerar nickelkorrosion. Genom att observera morfologin hos nickelskiktets tvärsnitt kan kontinuerlig nickelkorrosion observeras, vilket ytterligare bekräftar förekomsten av nickelkorrosionsfenomen i den dåligt lödbara plattan, och den onormala tillväxten av IMC vid nickelkorrosionsområdet, vilket resulterar i dålig svetsbarhet.

 

4 Microscope

Skicka förfrågan