Vilka är fördelarna med en beklädnadstjockleksmätare framför en beläggningstjockleksmätare?
Beklädnadstjockleksmätaren är en nyutvecklad ny produkt, jämfört med den tidigare beläggningstjockleksmätaren har följande huvudsakliga fördelar:
1. snabb mäthastighet: mäthastighet än andra TT-serier 6 gånger snabbare;
2. hög noggrannhet: produkten är enkel efter skolans 0 noggrannhet kan nå 1-2% finns för närvarande på marknaden för att uppnå produkter på A-nivå, dess noggrannhet är mycket högre än tidigare och andra liknande inhemska . Dess noggrannhet är mycket högre än för liknande produkter i Kina, såsom eran, och dess noggrannhet är också högre än för importerade produkter, såsom EPK;
3. Stabilitet: det uppmätta värdets stabilitet och användningsstabiliteten är bättre än importerade produkter;
4. funktion, data, drift, visa allt på kinesiska;
Materialet ytskydd, dekoration av bildandet av täckskiktet, såsom beläggningar, plätering, dressing skikt, pasta skikt, kemisk generering av film, etc., i relevanta länder och internationella standarder som kallas beläggning (beläggning). Beklädnad tjocklek mätning har blivit en viktig del av bearbetningsindustrin, yttekniska kvalitetstestning, är en produkt för att uppnå överlägsna kvalitetsstandarder av de nödvändiga medlen. För att göra produkten internationaliserad, Kinas exportvaror och utlandsrelaterade projekt har beklädnadens tjocklek ett tydligt krav.
Mätmetoder för beklädnadstjocklek inkluderar huvudsakligen: kilskärningsmetod, ljusavskärningsmetod, elektrolysmetod, tjockleksskillnadsmätningsmetod, vägningsmetod, röntgenfluorescensmetod, -stråleåterspridningsmetod, kapacitansmetod, magnetisk mätmetod och virvelströmsmätning metod. De första fem av dessa metoder är förlustbringande, besvärliga och långsamma mätmetoder, främst tillämpliga på provtagningsinspektioner.
Röntgen- och strålemetoder är beröringsfria icke-förstörande mätningar, men enheterna är komplexa och dyra och mätområdet är litet. På grund av den radioaktiva källan måste användaren följa strålskyddsnormerna. röntgenmetoden kan mäta mycket tunn plätering, dubbelplätering, legeringsplätering. -ray-metoden är lämplig för plätering och substrat atomnummer större än 3 plätering mätning. Kapacitansmetoden används endast för tjockleksmätningar av tunna ledande isolerande beklädnader.
