Vad är skillnaden mellan ett helautomatiskt svepelektronmikroskop och ett optiskt mikroskop
1. Olika definitioner:
Ett optiskt mikroskop är ett optiskt instrument som använder optiska principer för att förstora och avbilda små föremål som inte kan urskiljas av det mänskliga ögat, så att människor kan extrahera mikrostrukturinformation.
Tillämpningen av helautomatisk svepelektronmikroskopteknologi är baserad på det optiska mikroskopet, det optiska mikroskopets upplösning är {{0}}.2μm, och transmissionselektronmikroskopets upplösning är 0.2nm, dvs. säg, transmissionselektronmikroskopet är baserat på det optiska mikroskopet. Förstorad 1000 gånger.
2. Olika kategorier:
Det finns många klassificeringsmetoder för optiska mikroskop. Beroende på antalet använda okular kan de delas in i trinokulära, binokulära och monokulära mikroskop; beroende på om bilden har en stereoskopisk effekt kan de delas in i stereoskopisk syn och icke-stereoskopiska synmikroskop; enligt observationsobjektet kan de delas in i biologiska och metallografiska mikroskop etc.; enligt den optiska principen kan den delas in i polariserat ljus, faskontrast och differentiell interferenskontrastmikroskop, etc.
Helautomatiska svepelektronmikroskop kan delas in i transmissionselektronmikroskop, svepelektronmikroskop, reflektionselektronmikroskop och emissionselektronmikroskop enligt deras strukturer och användningsområden.
3. Sammansättningsstrukturen är annorlunda:
Mikroskopets optiska system består huvudsakligen av fyra delar: objektivlins, okular, spegel och kondensor. I vid bemärkelse omfattar det även ljuskällor, filter, täckglas och diabilder.
Det automatiska svepelektronmikroskopet består av tre delar: linshylsa, vakuumanordning och strömförsörjningsskåp.
Jämfört med optiskt mikroskop och transmissionselektronmikroskop har svepelektronmikroskop följande egenskaper:
1. Den kan direkt observera strukturen på provytan, och storleken på provet kan vara så stor som 120 mm × 80 mm × 50 mm.
2. Provberedningsprocessen är enkel och behöver inte skäras i tunna skivor.
3. Provet kan translateras och roteras i tre dimensioner i provkammaren, så att provet kan observeras från olika vinklar.
4. Skärpedjupet är stort och bilden är full av tredimensionalitet. Skärpedjupet för svepelektronmikroskopet är hundratals gånger större än det för det optiska mikroskopet och dussintals gånger större än det för transmissionselektronmikroskopet.
5. Bildens förstoringsområde är brett och upplösningen relativt hög. Det kan förstoras tio gånger till hundratusentals gånger, och det omfattar i princip förstoringsområdet från förstoringsglas, optiskt mikroskop till transmissionselektronmikroskop. Upplösningen är mellan optiskt mikroskop och transmissionselektronmikroskop, upp till 3nm.
6. Elektronstrålar har mindre skador och föroreningar på prover.
7. Medan morfologin observeras kan andra signaler från provet också användas för att analysera sammansättningen av mikroområdet.
