Vad är skillnaden mellan ett metallografiskt mikroskop och ett svepelektronmikroskop?
Ett metallografiskt mikroskop är ett mikroskop som används för att observera ytan på ett metallprov (metallografisk struktur) med infallande belysning. Den kombinerar optisk mikroskopiteknik, fotoelektrisk konverteringsteknik och datorbildbehandlingsteknik. Högteknologiska produkter kan enkelt observera den metallografiska bilden på datorn, så att den metallografiska bilden kan analyseras, graderas, etc., och den utgående bilden är. Ett metallografiskt mikroskop är en typ av optiskt mikroskop. Jämfört med elektronmikroskopet är upplösningen mindre, mikronupplösningen mindre och förstoringen är mindre, men det är lätt att använda. Stort synfält, relativt lågt pris.
Metallografiskt mikroskop En ny typ av elektrooptiskt instrument som används vid svepelektronmikroskopi. Den har enkel provberedning, justerbar förstoringsfältsbredd, hög bildupplösning, skärpedjup och mer. Svepelektronmikroskopi har använts i stor utsträckning inom biologi, medicin och metallurgi i decennier och har främjat utvecklingen av olika relaterade discipliner. Funktioner av svepelektronmikroskop: elektronmikroskop, hög bildupplösning, nanoskala upplösning, justerbar förstoring och stor, en annan viktig funktion är stort skärpedjup och rika tredimensionella bilder.
Det finns stora skillnader mellan metallografiska mikroskop och svepelektronmikroskop, främst i följande aspekter:
1. Olika ljuskällor: metallografiska mikroskop använder synligt ljus som ljuskälla, och svepelektronmikroskop använder elektronstrålar som ljuskälla för avbildning.
2. Principen är annorlunda: det metallografiska mikroskopet använder principen om geometrisk optisk avbildning för att skanna, och svepelektronmikroskopet använder högenergielektronstrålar för att bombardera provets yta för att excitera olika fysiska signaler på ytan. prov, använd sedan olika signaldetektorer för att ta den fysiska signalen och omvandla den till en bild. information.
3. Upplösning: På grund av ljusets interferens och diffraktion kan det metallografiska mikroskopet endast begränsas till 0.2-0.5um. Svepelektronmikroskopi använder en elektronstråle som ljuskälla, och dess upplösning kan nå 1-3nm. Därför hör observation av mikrostruktur med metallografiskt mikroskop till mikronanalys, och observation med svepelektronmikroskop tillhör nanoskalaanalys.
4. Skärpedjup: Skärpedjupet för ett allmänt metallografiskt mikroskop är mellan 2-3um, så ytjämnheten på provet måste vara extremt hög, så beredningsprocessen är relativt komplicerad. Skärpedjupet för SEM kan vara så högt som flera.
