Tillämpning av mikroskop i den strategiska framväxande industrin för lysdioder
LED (Light-Emitting Diode) är kortnamnet för lysdioder. Från och med andra halvan av 2009 upplevde LED-marknaden ett snabbt språng. Som en starkt växande framväxande industri förväntas omfattningen av Kinas LED-industri överstiga 500 miljarder yuan år 2015, inklusive 160 miljarder yuan för allmän belysning, 120 miljarder yuan för storstora LCD-TV-bakgrundsbelysning, 20 miljarder yuan för fordonsbelysning och 100 miljarder yuan, skärmapplikationer för landskapsbelysning och annan belysningssektor.
LED-industrikedjan kan grovt delas in i tre delar: uppströms substrattillväxt och epitaxial wafertillverkning, midstream-chipförpackning och nedströmsapplikationsprodukter. Bland hela industrikedjan ligger kärndelarna i substrattillväxt och epitaxiell wafertillverkning, som har relativt högt tekniskt innehåll och står för nästan 70 % av industrins produktionsvärde och vinster.
Aktuella utvecklingstrender inom LED-industrin
Påverkas av internationella och inhemska marknader och drivs avNational Semiconductor Lighting Project, Kinas LED-industri har initialt bildat en relativt komplett industriell kedja som täcker uppströms LED-substratmaterial, produktion av LED-epitaxiella wafers, beredning av LED-chips, förpackning av LED-chips och applicering av LED-produkter.
Det är välkänt att halvledarljusemitterande dioder erbjuder fördelar som hög energiomvandlingseffektivitet och lång livslängd och betraktas som nästa generations ljuskälla som kommer att ersätta traditionella ljuskällor som för närvarande används. Men att döma av den nuvarande prestandan för lysdioder, måste många tekniska utmaningar fortfarande övervinnas för att uppnå detta mål, vilket kräver intensifierad forskning inom materialanalys och karakterisering, enhetsanalysteknik och andra områden.
Vid analys av förpackningsstrukturer för LED-enheter, såväl som strukturen, sammansättningen och gränssnittsförhållandena för chips, har instrument inklusive optiska mikroskop, svepelektronmikroskop (SEM), energidispersiv röntgenspektroskopi (EDS) och sekundär jonmasspektrometri (SIMS) blivit oumbärliga analytiska verktyg för övervakning av fel och strukturell analys av anordningar, samt optimering av axialanalys och epistialanalys av anordningar. processer.
