Tillämpning av mikroskop i svetspenetrationsanalys av fordonskomponenter
Svetsning, som en kärnmaterialbearbetningsteknik, används i stor utsträckning inom industriell produktion. Med den ständiga utvecklingen av svetsprocesser och -tekniker har industrier inom alla sektorer ställt allt strängare krav på svetskvalitet, vilket driver på den växande användningen av svetspenetrationsanalyssystem och dedikerade mikroskop.
Industriell uppgradering har blivit en brådskande prioritet, och inspektion av svetsgenomträngning spelar en viktig roll i den industriella uppgraderingen av maskintillverkningssektorn. För att möta denna efterfrågan har Shanghai Yihong Optical Laboratory Equipment Factory utvecklat ett svetskvalitetsinspektionssystem byggt på industristandardiserade svetspenetrationsmätmikroskop, i enlighet med följande specifikationer:
HB 5282-1984:Kvalitetsinspektion för motståndspunktsvetsning och sömsvetsning av konstruktionsstål och rostfritt stål
HB 5276-1984:Kvalitetsinspektion för motståndspunktsvetsning och sömsvetsning av aluminiumlegeringar med penetrationstestmikroskop
Systemet är utrustat med provberedningsenheter för svetsskärning, förslipning, polering och kemisk behandling, samt ZOOM-660E svetspenetrationsmikroskopsystemet och CF-2000C planbildsmätningssystemet. Den stöder avbildning, redigering, dimensionsmätning, dataexport och rapportutskrift för penetrationsanalys av stum-, hörn-, överlapps- och T-fogsvetsar.
Den är särskilt lämplig för svetsgenomträngningstestning av ett brett utbud av svetsade fordonskomponenter, inklusive verktygsfixturer och matriser, bilkontrollmätare, sätesdelar, säkerhetsbälten, filter och andra bildelar.
Följande presenterar faktiska skurna prover och mätresultat som fångats av svetspenetrationsmätmikroskopet från Shanghai Optical Instrument Factory. Jämfört med liknande produkter har detta datoriserade mätmikroskop för svetssömsgenomträngning tydlig bild, hög kontrast och hög mätnoggrannhet, vilket möjliggör intuitiv observation i sanna färger och fotografisk dokumentation.
