Att välja mellan ett upprättstående och ett inverterat mikroskop
Metallografiskt mikroskop, även känt som materialmikroskop, används främst för att observera metallstrukturens struktur. Det kan delas in i upprätt metallografiskt mikroskop och inverterat metallografiskt mikroskop
Det upprättstående metallografiska mikroskopet ger en positiv bild under observation, vilket ger stor bekvämlighet för användarens observation och identifiering. Förutom att analysera och identifiera metallprover med en höjd av 20-30 mm, används den i större utsträckning för transparenta, halvtransparenta eller ogenomskinliga ämnen på grund av dess överensstämmelse med mänskliga dagliga vanor. Att observera mål som är större än 3 mikron men mindre än 20 mikron, såsom metallkeramik, elektroniska chips, tryckta kretsar, LCD-substrat, filmer, fibrer, granulära föremål, beläggningar och andra material, kan uppnå goda bildeffekter för deras ytstrukturer och spår. Dessutom kan det externa kamerasystemet enkelt anslutas till videoskärmen och datorn för realtids- och dynamisk bildobservation, spara och redigera, skriva ut och kombineras med olika programvaror för att möta behoven hos mer professionella metallografiska, mätnings- och interaktiva undervisningsområden. Inverterat metallografiskt mikroskop använder optisk planavbildning för att identifiera och analysera mikrostrukturen hos olika metaller och legeringar. Det är ett viktigt verktyg för att studera metallografi i metallfysik och kan användas i stor utsträckning i fabriker eller laboratorier för gjutkvalitet, råmaterialinspektion eller forskning och analys av materialmetallografisk struktur efter processbehandling. Det ger intuitiva analysresultat och är en nyckelutrustning för kvalitetsidentifiering och analys av gjutning, smältning och värmebehandling inom gruv-, metallurgi-, tillverknings- och mekanisk processindustri.
På senare år har metallografiska mikroskop introducerats och kontinuerligt förbättrats för att möta industrins speciella behov på grund av behovet av planmikroskopiteknik med hög förstoring för att stödja chipproduktion inom mikroelektronikindustrin. Omvänt metallografiskt mikroskop, eftersom observationsytan på provet sammanfaller med arbetsbordets yta, är observationsobjektivet placerat under arbetsbordet och observerats uppåt. Detta observationsformulär begränsas inte av provets höjd och är lätt att använda. Instrumentstrukturen är kompakt, utseendet är vackert och generöst, och den inverterade metallografiska mikroskopbasen har en stor stödyta och en låg tyngdpunkt, vilket är stabilt och pålitligt. Okularet och stödytan lutar 45 grader, vilket gör observationen bekväm.
