Ofta stött på problem och lösningar vid användningen av beläggningstjockleksmätare
Varför finns det ibland uppenbara avvikelser i mätdata under mätprocessen?
Under mätprocessen, på grund av felaktig placering av sonden eller påverkan av externa störningsfaktorer, kan mätdata vara betydligt större. Vid denna tidpunkt kan du trycka och hålla ned CAL-tangenten för att rensa data för att inte gå in i datastatistiken.
3. Hur kalibrerar man systemet?
Metoden och typen av kalibrering är vanliga problem för nya användare. Systemkalibrering, nollpunktskalibrering och tvåpunktskalibrering har faktiskt skrivits i manualen och användarna behöver bara läsa den noggrant. Det bör noteras att när man kalibrerar järnbasen är det bäst att mäta flera gånger för att förhindra felaktiga operationer; proverna för systemkalibrering bör utföras i ordning från små till stora. Om enskilda standardbitar går förlorade kan du hitta prover med liknande värden för att ersätta dem.
4. Hur väljer man en lämplig instrumentmodell?
Den bästa typen av instrument att välja beror på tjockleken på föremålet som ska mätas av användaren. Generellt sett, när man mäter objekt under 1200um, är det bäst att välja MC-2000A-typ. För tjockleken 0 ~ 1200um har denna modell nått 2 procent ~3 procent noggrannhet, och den kan också säkerställa mätnoggrannheten för tjockleksvärden under 100um. Om tjockleken på det uppmätta objektet är 1200~5000um, rekommenderas det att välja MC-2000C tjockleksmätare. Om den är tjockare väljer du den förbättrade tjockleksmätaren MC-2000D.
5. Vad är orsaken till störningarna vid uppstart ibland?
Efter att instrumentet slagits på visas mätstatuspilen på instrumentets skärm och mätningen kan inte utföras igen, vilket betyder att instrumentet har störts. Det finns två huvudorsaker:
(1) Vid uppstart är sonden för nära järnbasen, vilket störs av järnbasens magnetfält.
(2) Sonden är inte korrekt isatt eller sondledningen är skadad.
