Metod för att testa kvaliteten på transistorer med en multimeter
Anslut först multimetern till testdiodterminalen. Använd den röda sonden på multimetern för att röra vid ett av stiften på transistorn, och använd den andra sonden på multimetern för att testa de återstående stiften tills följande resultat erhålls:
1. Om den svarta sonden på en transistor är ansluten till ett av dess stift, och de andra två stiften båda leder med en spänningsdisplay när de mäts med en röd sond, så är denna transistor en PNP-transistor, och stiftet som är anslutet till den svarta sonden är transistorns bas B. När den testas med metoden ovan, om spänningen för den röda sonden på en multimeter som är ansluten till ett av dess stift är något högre, är detta stift transistorns emitter E, och det återstående stiftet med en lägre spänning är kollektorn C.
2. Om den röda sonden på en transistor är ansluten till ett av dess stift och de andra två stiften båda leder med en spänningsdisplay när de mäts med en svart sond, då är denna transistor en NPN-transistor, och stiftet som är anslutet till den röda sonden är transistorns bas B. När den testas med metoden ovan, om spänningen på den svarta sonden på en multimeter ansluten till ett av dess stift är något högre, är detta stift transistorns emitter E, och det återstående stiftet med en lägre spänning är kollektorn C.
En annan metod är att använda hFE-växeln för bedömning. Efter att ha bestämt transistorns bas- och transistortyp, sätt in transistorns bas i mäthålet för Lu-värde enligt positionen för basen och transistortypen, och sätt in de andra två stiften i två av de återstående tre mäthålen. Observera storleken på data på displayen, hitta transistorns kollektor och emitter, byt positioner och mät sedan igen. Observera värdet på displayen, upprepa mätningen fyra gånger och jämför och observera. Det maximala uppmätta värdet är transistorns strömförstärkningsfaktor, vilket motsvarar transistorns kollektor- och emitterelektroder.
