Nikon Microscopes: Five-Step Optical Maintenance Protocol

Nov 22, 2025

Lämna ett meddelande

Nikon Microscopes: Five-Step Optical Maintenance Protocol

 

Ursprungligen härlett från metallografi, dess huvudsakliga syfte är som ett professionellt instrument för att observera metallografiska strukturer. Det är ett mikroskop speciellt utformat för att observera metallografiska strukturer hos ogenomskinliga föremål som metaller och mineraler. Dessa ogenomskinliga föremål kan inte observeras i ett vanligt transmissionsljusmikroskop, så den största skillnaden mellan guld och ett vanligt mikroskop är att det förra är upplyst av reflekterat ljus, medan det senare är upplyst av transmitterat ljus.

 

Metallografiska mikroskop har egenskaperna god stabilitet, tydlig bildåtergivning, hög upplösning och ett stort och platt synfält. Den kan inte bara utföra mikroskopisk observation på okularet, utan även observera dynamiska-realtidsbilder på datorns (digitalkamera) bildskärm och kan redigera, spara och skriva ut de bilder som krävs. Det används främst inom hårdvara, skivning, IC-komponenter, LCD/LED och andra områden.

Eftersom det finns fem typer av metallografiska mikroskoplinser: EPI ljusfältsfluorescens; BD ljusa och mörka fält; SLWD ultralångt arbetsavstånd; ELWD stärker arbetsavståndet; Utrustad med korrigeringsring. Inom hårdvaruindustrin kan vissa hårdvarukomponenter med kraftig reflektion observeras med BD-linser med ljusa och mörka fält. Till exempel, i LCD-industrin, när man observerar och mäter ledande partiklar, kan ett metallografiskt mikroskop också kopplas ihop med DIC för att få objektet att se mer -dimensionellt ut. Eftersom det är polariserat, en mikroskopisk observationsteknik som använder två uppsättningar färgfilter för att bilda polariserat ljus. Baserat på dess dubbelbrytningsegenskaper kan riktningen för den optiska vägen ändras. Naturligtvis kan polariserat ljus endast användas tillsammans med DIC och har liten betydelse i sig. Metallografiskt mikroskop används för att mäta och analysera små dimensioner som IC-komponenter och metallografiska sektioner. Det kan mätas med den intelligenta programvaran Iview SIMS, som har hög noggrannhet och effektivt minskar mänskliga mätfel. Lätt att lära och använda, den kan enkelt mäta och analysera relevanta dimensioner som punkter, linjer, bågar, semimeridianer, raka meridianer, vinklar etc., enkelt ta mätbilder och anpassa olika testrapporter

 

2 Electronic microscope

Skicka förfrågan