Drift och felsökning av mätprojektorer och mätmikroskop
1. Mät förstoringen av projektormikroskopet och observera hur man anpassar sig till olika krav
Mätprojektormikroskop används för tre-dimensionell inspektion och observation av elektroniska komponenter, integrerade kretskort, roterande skärverktyg, magneter, etc. Hur anpassar man sig till dessa olika krav baserat på det faktum att dessa olika föremål måste observeras i olika förstoringar? Det kan lösas genom flera aspekter. a. Det kan uppnås genom optisk prestanda. b. Den kan väljas för videoobservation. c. Det kan uppnås genom mekanisk prestanda. d. Den kan belysas av en ljuskälla
Optisk prestanda: Baserat på observationskraven för det uppmätta objektet väljs olika okular/objekt för att lösa problem som hög förstoring och stort synfält. När endast hög förstoring krävs kan det uppnås genom att byta ut okularet och objektivlinsen med hög förstoring. När ett stort synfält krävs kan det uppnås genom att byta ut objektivlinsen, minska okularet eller byta ut det stora synfältsokularet.
Videoobservation: När den optiska förstoringen är otillräcklig kan elektronisk förstoring användas som kompensation. När vi observerar och vill lagra och bevara samtidigt kan vi välja videor. Det finns olika videoformat: A. Den kan nås direkt via en monitor B. Den kan anslutas till en dator (via en digital CCD eller analog CCD-bildinsamlingskort) C. Den kan anslutas till en digitalkamera (olika digitalkameror måste ta hänsyn till olika gränssnitt och kompatibilitet med mikroskopet)
Mekanisk prestanda: När vi stöter på svetsning, montering, inspektion av stora integrerade kretskort och krav på arbetsavstånd kan vi lösa dem genom mekanisk prestanda, såsom universalfästen, vipparmsfästen, stora mobila plattformar etc. Med deras prestandaegenskaper kan vi direkt slutföra vårt detekteringsarbete genom att använda fästen och plattformar vid detektering av stora föremål. Inget behov av att flytta vårt testade objekt. Till exempel hade företag A svårt att flytta kretskortet på grund av dess stora storlek och behovet av lätt lutningsobservation. Därför kunde inspektionsarbetet endast slutföras genom mekanisk rörelse, och användningen av universalfästen kunde uppfylla dessa användningskrav samtidigt.
Ljuskällsbelysning: Ljuskällsbelysning spelar en avgörande roll för om det uppmätta objektet kan ses tydligt. När du väljer belysning är det nödvändigt att välja motsvarande belysningsverktyg och belysningsmetod baserat på egenskaperna hos det uppmätta objektet självt (med tanke på dess krav på ljus, såsom stark/svag/reflekterande, etc.). Om överföringen av projektormikroskopet inte kan möta dina belysningsbehov med sned belysning, har vi även förberett LED-kallljuslampor, cirkulära lampor, en-/dubbelfiber kallljuslampor etc. åt dig.
2. Återspegla mikroskopets förmåga att snabbt lokalisera och flytta objektet som mäts genom observation
Placera föremålet under mikroskopet och justera först förstoringen till ett minimum. När förstoringsbilden är tydlig, placera den uppmätta komponenten i mitten av synfältet. Justera sedan gradvis zoomratten på båda sidor av mikroskopet tills bilden med hög förstoring är helt klar. Om komponenten du observerar kräver rörelseobservation kan en mobil arbetsbänk utrustas, som kan röra sig vertikalt och horisontellt med en noggrannhet på 0,1 mm för rörelseavståndet.
