Optisk mikroskopi (OM) analys
Teknisk princip
Bildprincipen för optiskt mikroskop är att utnyttja den synliga ljusstrålningen på provets yta för att orsaka lokal spridning eller reflektion för att bilda olika kontraster, eftersom våglängden för synligt ljus är så hög som 4,000-7, 000 ångström, det är naturligtvis sämst när det gäller upplösning (eller diskriminerande hastighet, upplösning, vilket hänvisar till det närmaste avståndet mellan de två punkterna som kan särskiljas). Under allmän drift, eftersom urskiljningshastigheten för det blotta ögat endast är 0.2 mm, när den optimala upplösningen för det optiska mikroskopet endast är 0.2 um, är den teoretiska maximala förstoringen endast 1, 000 X. Förstoringen är begränsad, men synfältet är tvärtom det största bland alla typer av bildsystem, vilket förklarar att observationen av det optiska mikroskopet faktiskt fortfarande kan ge mycket av preliminär strukturell information.
Typer av maskiner
Analysera applikationer
Även om förstoringen och upplösningen av optiska mikroskop inte kan möta behoven för ytobservation av många material, används de fortfarande i stor utsträckning i följande applikationer, såsom:
Tvärsnitts strukturell observation av komponenter;
Fördröjningsstrukturanalys och observation av plantyp;
Observation av nederbördsfri zon;
Observation av dålig inriktning och överetsade fördjupningar;
Studie av Oxidation Enhanced Stacking Faults (OSF).
