Flera enkla metoder för att testa IC-chips med en multimeter
① Offlinedetektering
Mät motståndet framåt och bakåt mellan varje stift på IC-chippet och jordterminalen. Jämför de uppmätta resistansvärdena med de för ett kvalificerat normalt IC-chip för att exakt lokalisera felpunkter.
② Onlinedetektering
1) DC-resistansdetektionsmetod
Operationsmetoden överensstämmer med offlinedetektering. Följande försiktighetsåtgärder måste iakttas:
(a) Bryt strömförsörjningen till kretskortet som testas;
(b) Se till att multimeterns interna spänning inte överstiger 6 V;
(c) Undvik störning av perifera kretskomponenter såsom potentiometrar anslutna till IC-chippet under mätning.
2) DC-driftspänningsmätningsmetod
Jämför den uppmätta DC-spänningen för varje IC-stift med standardvärdet för normalspänning. Relevanta försiktighetsåtgärder är följande:
(a) Multimetern måste ha högt inre motstånd; en digital multimeter är det föredragna valet;
(b) Justera alla potentiometrar till mittläget före testning;
(c) Vidta halkskydd för testsonder. En cykelventilkärna kan förses med en hylsa på testsonden, som sträcker sig cirka 5 mm utanför sondens spets;
(d) Om den uppmätta spänningen inte överensstämmer med standardvärdet, analysera inverkan av den onormala stiftspänningen på IC-driften och motsvarande spänningsförändringar för andra stift utförligt;
(e) IC-stiftspänningar påverkas lätt av perifera komponentfel, inklusive elektriskt läckage, kortslutning, öppen krets och komponentåldring;
(f) När enskilda IC-stift visar onormala värden, börja felsökning från stiften med maximal avvikelse. Kontrollera perifera komponenter först; om inget fel hittas är IC-chipet skadat;
(g) För kretskort med dynamiska driftsignaler varierar IC-stiftspänningarna med signalförändringar. Onormala spänningsfluktuationer indikerar potentiellt IC-chipfel;
(h) För utrustning som stöder flera driftlägen skiljer sig IC-stiftspänningsvärdena under olika arbetslägen.
3) Testmetod för AC-driftspänning
Använd en multimeter med en dB-växel för att mäta den ungefärliga AC-driftspänningen för IC. Om multimetern inte är utrustad med en dB-växel, anslut en 0,1–0,5 μF DC-blockerande kondensator i serie med den positiva testkabeln. Denna metod är tillämplig på IC:er som arbetar vid låga frekvenser. Eftersom de uppmätta signalerna påverkas av inneboende frekvens- och vågformsskillnader är alla testdata ungefärliga och endast för referens.
4) Totalströmmätningsmetod
Bedöm IC:ns arbetstillstånd genom att mäta dess totala strömförsörjningsström. De flesta interna kretsar av IC använder DC-kopplingsläge. När IC är skadad (som PN-övergångsavbrott eller öppen krets), kommer det efterföljande kretssteget att mättas eller avbrytas, vilket resulterar i en förändring i den totala driftsströmmen. Därför kan kvaliteten på IC:n bedömas genom att detektera den totala strömmen. Strömvärdet kan beräknas genom att mäta spänningsfallet över slingresistansen i onlinekretsen.
