Testa kondensatorns läckström med multimeterns spänningsområde
DC-spänningsområdet för en digital multimeter används inte bara för att mäta spänning, utan också för att detektera kondensatorer. Att mäta kapacitans med hjälp av spänningsområde är faktiskt en indirekt mätmetod, som kan mäta kondensatorer med liten kapacitet från 220pF till 1 μF och noggrant mäta kondensatorns läckström.
1. Mätmetoder och -principer. Mätkretsen visas i figur 1, där E är ett externt 1,5V torrbatteri. Ställ in den digitala multimetern på likspänningen 2V, anslut den röda sonden till en elektrod på den testade kondensatorn Cx och anslut den svarta sonden till batteriets minuspol. Ingångsresistansen Ri för 2V växel är 10M Ω. Eftersom spänningen över Ri är instrumentets inspänning VIN, fungerar Ri faktiskt också som ett samplingsmotstånd. Om läckströmmen för den uppmätta kondensatorn är ID och det stabila värdet som visas av instrumentet är VC (enhet: V), då
Här är ett exempel för att illustrera:
Exempel 1: Den testade kondensatorn är en fast kondensator med en kapacitans på 1 μ F/160V. Använd den digitala multimetern DT930FD med ett 2V/DC-område (=10M Ω) för att ansluta kretsen enligt figur 1. Först visade instrumentet 1,521V och sedan minskade det visade värdet gradvis. Efter cirka 1 minut stabiliserades det visade värdet på 0,0027V. Baserat på detta beräknades läckströmmen för den testade kondensatorn: läckströmmen för den testade kondensatorn var endast 0,3nA, vilket indikerar god kvalitet.
Exempel 2: Den testade kondensatorn är en 0,022 μ F/63V polyesterkondensator, och mätmetoden är densamma som ovan. På grund av kondensatorns låga kapacitet minskar VIN (t) snabbt under mätningen. Efter cirka 4 sekunder sjunker det visade värdet till 0,0019V. Den beräknade läckströmmen är:
Läckströmmen är mycket liten, vilket indikerar god kvalitet.
2. Försiktighetsåtgärder
(1) Före mätning bör kondensatorns två stift kortslutas och laddas ur, annars kan processen med att läsa ändringar
inte observeras.
(2) Under mätningsprocessen, rör inte vid kondensatorelektroden med båda händerna för att undvika att instrumentet hoppar.
(3) Under mätningsprocessen ändras värdet på VIN (t) exponentiellt, minskar snabbt i början och saktar gradvis ner över tiden. När kapaciteten för den testade kondensatorn Cx är mindre än några tusen picofarads, på grund av den snabba minskningen av VIN (t) i början och den låga mäthastigheten för instrumentet, finns det ingen tid att reflektera det initiala spänningsvärdet. Därför är det initialt visade värdet för instrumentet lägre än batterispänningen E.
(4) När den uppmätta kondensatorn Cx är större än 1 μF, för att förkorta mättiden, kan resistansläge användas för mätning. Men när kapaciteten hos den testade kondensatorn är mindre än 200pF är det svårt att observera laddningsprocessen på grund av den korta förändringen i avläsningen.
