Egenskaperna hos skanningsprobmikroskop
Svepsondmikroskop är en allmän term för olika nya sondmikroskop (atomkraftsmikroskop, elektrostatiskt kraftmikroskop, magnetiskt kraftmikroskop, scanningjonkonduktivitetsmikroskop, svepelektrokemiskt mikroskop, etc.) utvecklade på basis av sveptunnelmikroskop. Det är ett ytanalysinstrument som utvecklats internationellt de senaste åren.
Skanningssondmikroskop är den tredje typen av mikroskop som observerar materialstrukturer i atomär skala, efter fältjonmikroskopi och hög-transmissionselektronmikroskopi. Med scanning tunneling microscope (STM) som ett exempel är dess laterala upplösning 0,1~0,2nm och dess longitudinella djupupplösning är 0,01nm. Sådan upplösning kan tydligt observera enskilda atomer eller molekyler fördelade på provets yta. Under tiden kan scanningsprobmikroskop också användas för observation och forskning i luft, andra gaser eller vätskemiljöer.
Skanningsprobmikroskop har egenskaper som atomupplösning, atomtransport och nanomikrotillverkning. Men på grund av de olika arbetsprinciperna för olika svepmikroskop är ytinformationen för provet som reflekteras av deras resultat mycket olika. Skanningstunnelmikroskopet mäter informationen om elektronfördelningen på provets yta, med atomär nivåupplösning men kan fortfarande inte erhålla provets sanna struktur. Atommikroskopi detekterar interaktionsinformationen mellan atomer och erhåller på så sätt arrangemangets information om atomfördelning på provets yta, vilket är den sanna strukturen av provet. Å andra sidan kan atomkraftsmikroskopi inte mäta elektronisk tillståndsinformation som kan jämföras med teori, så båda har sina styrkor och svagheter.
