Vilka är de viktigaste egenskaperna hos ett metallografiskt mikroskop
1. Det metallografiska mikroskopet är speciellt utformat för alla inspektions- och mätuppgifter vid inspektion av metaller och industrimaterial.
2. Tillhandahåller huvudsakligen reflektionsobservationskonfiguration för att möta rutinmässig detektering och analys av metallografiska prover.
3. Den totala optiska banan stöder en synfältsdiameter på 20 mm.
4. Manuell skivspelare med fyra hål.
5. Tillhandahåll halogenbelysning med inbyggd 35W halogenlampa eller extern 100W transformator.
6. Kan ge ljusfält och polariserat ljus observationsmetoder.
7. Kan paras ihop med Leicas objektiv med olika multipler. Kan utrustas med ett fast provsteg eller ett trebords mobilt provsteg. Det metallografiska mikroskopet kan utrustas med kameror, digitalkameror och andra bildinsamlingsanordningar för att uppnå bildlagring och kan användas tillsammans med analysmjukvara för bildanalys.
Det metallografiska mikroskopet, med sin helautomatiska differentialinterferensfaskontrast (DIC) och 1,25x helfältsspegel, kan upptäcka även små detaljer. Den ultradjupa fälthögupplösningsbilden möjliggör en tydlig bild av små detaljer och uppfyller de högkvalitativa bildkraven för detektering.
Svepelektronmikroskopi är lika lätt att använda som en digitalkamera, och bibehåller hög upplösning och skärpedjup samtidigt som man enkelt erhåller stora förstoringsbilder. Med de kraftfulla elektroniska optiska egenskaperna hos svepelektronmikroskopi hjälper den till att påskynda forskning inom biovetenskap och defektanalys av bearbetade material.
Den här enheten är lätt att använda i grundläggande aspekter som autofokus, automatisk kontrastförhållande och automatisk ljusstyrkekontroll, utan behov av speciella provbearbetningsförberedelser såsom beläggning eller torkning. Den har två driftlägen högvakuum och lågvakuum, samt tre accelerationsspänningsinställningar, lämpliga för olika användningsområden. Alla dessa kan programmeras i förinställda lösningsfiler, bibehålla hög upplösning och stort skärpedjup samtidigt som man enkelt erhåller stora förstoringsbilder. Den har den kraftfulla elektroniska optiska prestandan för svepelektronmikroskopi.
Svepelektronmikroskopet sänder ut en elektronstråle (med en diameter på cirka 50um) från en elektronkanon, som konvergeras av ett magnetiskt linssystem under inverkan av en accelererande spänning för att bilda en elektronstråle med en diameter på 5nm. Den fokuseras på provets yta och under inverkan av en avböjningsspole mellan den andra fokuseringslinsen och objektivlinsen genomgår elektronstrålen en gitterliknande avsökning på provet. Elektronerna interagerar med provet för att generera signalelektroner, som samlas upp av detektorn och omvandlas till fotoner. De förstärks sedan av en elektrisk signalförstärkare och avbildas på displaysystemet.
Strukturen hos ett svepelektronmikroskop inkluderar ett elektronoptiskt system, signalinsamling, bildvisning och inspelningssystem och ett vakuumsystem. Denna del består huvudsakligen av en elektronpistol, elektromagnetisk lins, skanningsspole och provkammare. Elektronkanonen tillhandahåller en stabil elektronkälla som bildar en elektronstråle. I allmänhet används en volframkatodelektronpistol och en volframtråd med en diameter på cirka 0,1 mm böjs till en hårnålsform och bildar en V-formad spets med en radie på cirka 100 μm. När glödtrådsströmmen går igenom värms glödtråden upp och när den når driftstemperatur avger den elektroner. Hög spänning appliceras mellan katoden och anoden, och dessa elektroner accelererar mot anoden och bildar en elektronstråle. Under inverkan av ett elektriskt högspänningsfält accelereras elektronstrålen genom anodaxelns hål och går in i det elektromagnetiska fältet.
